相控陣超聲檢測(cè)，也稱(chēng)超聲相控陣檢測(cè)，英文簡(jiǎn)稱(chēng)PAUT，是一種新型超聲波無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，可提供高精度圖像，檢測(cè)工件內(nèi)部是否存在缺陷。
　　相控陣超聲檢測(cè)，其探頭由多個(gè)壓電晶片規(guī)律排列，每個(gè)壓電晶片形成獨(dú)立發(fā)射與接收單元，所有壓電晶片發(fā)射的超聲波形成波陣面，波陣面的形狀與方向可控，利用接收到的不同介質(zhì)反射回來(lái)的超聲波時(shí)間的不同實(shí)現(xiàn)掃描。與傳統(tǒng)的單個(gè)或多個(gè)超聲波探頭相比，相控陣超聲檢測(cè)的掃描能力更強(qiáng)。
　　相控陣超聲檢測(cè)具有檢測(cè)靈敏度高、檢測(cè)速度快、檢測(cè)精度高、檢測(cè)效率高等優(yōu)點(diǎn)，探頭發(fā)出的超聲波聲束角度可偏轉(zhuǎn)，靈活性高，能夠發(fā)現(xiàn)常規(guī)超聲波檢測(cè)技術(shù)難以發(fā)現(xiàn)的微小缺陷，可檢測(cè)形狀復(fù)雜零部件，且檢測(cè)結(jié)果可記錄，能夠準(zhǔn)確定位缺陷的位置，確定缺陷的長(zhǎng)度、深度、高度，綜合性能優(yōu)秀，可以替代射線(xiàn)檢測(cè)使用。
　　超聲波檢測(cè)是工業(yè)領(lǐng)域最常見(jiàn)的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，20世紀(jì)90年代，相控陣超聲檢測(cè)技術(shù)被開(kāi)發(fā)問(wèn)世，是借鑒相控陣?yán)走_(dá)技術(shù)發(fā)展而來(lái)，最初應(yīng)用于醫(yī)學(xué)成像領(lǐng)域，隨著技術(shù)日益成熟以及工業(yè)無(wú)損檢測(cè)要求日益提高，在工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用需求逐步攀升。
　　相控陣超聲檢測(cè)可以滿(mǎn)足精密檢測(cè)需求，能夠用于金屬材料、合金材料、非金屬材料、復(fù)合材料、焊縫、鑄件、鍛件、管道、容器以及射線(xiàn)所無(wú)法檢測(cè)的厚壁焊縫等檢測(cè)方面，廣泛應(yīng)用在石油、天然氣、化工、冶金、電力、新能源、船舶、航空航天等領(lǐng)域。
　　與常規(guī)超聲波檢測(cè)技術(shù)相比，相控陣超聲檢測(cè)成本較高，但隨著科技進(jìn)步，超聲波無(wú)損檢測(cè)正在向著數(shù)字化、精密化方向發(fā)展，傳統(tǒng)超聲波檢測(cè)技術(shù)逐漸無(wú)法滿(mǎn)足需求，以相控陣超聲檢測(cè)等為代表的新型超聲波檢測(cè)技術(shù)成為發(fā)展趨勢(shì)。憑借可直觀(guān)顯示缺陷、檢測(cè)精度高、檢測(cè)結(jié)果數(shù)字化且可存儲(chǔ)等優(yōu)點(diǎn)，相控陣超聲檢測(cè)技術(shù)受到關(guān)注。
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