離子減薄儀是一種材料樣品制備儀器，主要用于將材料樣品減薄到適合透射電子顯微鏡（TEM）觀察的厚度，也常用于試樣表面損傷層、非晶層的去除和清潔。
　　離子減薄儀通常由顯微鏡、CCD攝像頭/數(shù)碼相機、真空泵、離子槍、樣品倉等組成，工作原理是利用高能離子束（多為氬Ar離子束）轟擊材料表面，當轟擊傳遞能量超過材料表面原子或分子間的鍵合力時，材料表面原子或分子會被濺射出來，從而實現(xiàn)減薄或拋光。
　　離子減薄法是TEM樣品制作的常見減薄技術，與電解雙噴減薄法（電化學腐蝕法）相比，其普適性更廣�；�于離子減薄法的離子減薄儀可用于半導體、金屬、合金、陶瓷、薄膜、涂鍍層、顆粒、地質、多相等多種材料的減薄，具有操作便捷、制樣速度較快、制樣質量高等特點。
　　離子減薄儀是透射電子顯微鏡（TEM）剛需配套儀器，近年來，隨著我國科研水平提升、實驗室建設速度加快，TEM應用日益廣泛，進而帶動離子減薄儀市場需求釋放。同時在國家宏觀政策支持下，大規(guī)模設備更新工作持續(xù)推進，離子減薄儀市場將迎來一波確切且持續(xù)性的發(fā)展。
　　我國離子減薄儀研制起步晚于歐美國家，早期離子減薄儀市場被國外品牌高度壟斷，我國需求長期依賴進口。在國際市場上，離子減薄儀品牌主要包括美國FISCHIONE公司、美國GATAN公司（被AMETEK收購）、德國徠卡顯微系統(tǒng)、日本電子（JEOL）、日本日立、匈牙利Technoorg Linda等。
　　離子減薄儀自主化發(fā)展對國家科研水平提升具有重要意義，上世紀八十年代，我國也展開了離子減薄儀的研制及應用研究，其中冶金部鋼鐵研究總院研制的GL-69型離子減薄儀于1982年通過部級技術鑒定。北京艾博智業(yè)離子技術有限公司在離子減薄儀領域已有二十多年開發(fā)和研制歷史，離子減薄儀產品包括AL系列、GL系列等。
   離子減薄儀主要用于材料樣品減薄，是TEM剛需配套儀器，隨著大規(guī)模設備更新工作推進、材料科學研究深入，離子減薄儀市場空間將不斷擴大。我國已實現(xiàn)離子減薄儀國產化生產，但目前國外企業(yè)仍在我國市場上占據(jù)著重要地位，尤其是高端領域，離子減薄儀尚有一定國產替代空間。